集成运算放大器检测
检测项目
1. 输入失调电压（Vos）：典型值≤1mV@25℃，全温区漂移≤10μV/℃
2. 开环增益（Aol）：≥100dB@DC-1kHz频段
3. 共模抑制比（CMRR）：≥90dB@50Hz-10kHz
4. 电源电压抑制比（PSRR）：≥80dB@100Hz-1MHz
5. 带宽增益积（GBW）：实测值≥标称值90%
检测范围
1. 通用型集成运放：LM741、TL082等工业级器件
2. 精密运放：OPA277、AD8628等低失调器件
3. 高速运放：AD811、THS3091等高带宽器件
4. 低功耗运放：LPV321、MAX4239等微电流器件
5. 高压运放：PA94、OPA462等≥100V工作电压器件
检测方法
GB/T 6798-1996《半导体集成电路运算放大器测试方法》
IEC 60748-4-3:2017半导体器件-集成电路-运算放大器测试
ASTM F1241-2014直流参数测试规程
JESD78B_IC闩锁效应测试标准
SJ/T 10743-2016模拟集成电路电参数测试程序
检测设备
1. Keysight B1500A半导体分析仪：静态参数精密测量
2. Tektronix MDO3104示波器：动态特性波形分析
3. Chroma 3380P程控电源：供电特性模拟测试
4. NF Corporation FRA5087频响分析仪：AC特性扫描
5. Fluke 8846A高精度数字万用表：微电压/电流测量
6. ESPEC SH-261恒温箱：温度特性试验
7. Agilent 4294A阻抗分析仪：输入/输出阻抗测试
8. Omicron Bode100网络分析仪：相位裕度测量
9. HIOKI IM3536 LCR表：寄生参数分析
10. Thermonics T-2600热流仪：热阻特性测试